Etude par diffraction des rayons X et microscopie électronique en transmission d'un alliage Cu–1,35 at.% Sn déformé par compression

✍ Scribed by Mignot, J. ;Rondot, D.

• Book ID: 114498097
• Publisher: International Union of Crystallography
• Year: 1973
• Tongue: English
• Weight: 972 KB
• Volume: 6
• Category: Article
• ISSN: 0021-8898
• DOI: 10.1107/s0021889873009209