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Emissionsmikroskopische Untersuchungen zur hderung der Sekundarelektronenemission bei der plastischen Verformung
Bci drr plastischen Verformrrrig polyltrist,alliiier Probcii im Yek~indiirelektroncri-Emissionsmikroskop nehmeri im normalen Hochvakrrum sowohl der elektronenoptischc Bildkontrast als auch die Elektronenstromdichtc~i aller Kristallitc ab. Dabci solleri die Temperat.ur so hoch und der Kestgasdruck so niedrig sein, da13 die Sckuridiirelekt.ronenaiisbeute hei VerLnderung diescr GroBen konstant bleibt. Im rekristallisierteii Zustand nehmen die Kristallite, dcrrn Orientieriing rrhalten gebliebon ist, wicdor ihre ursprunglichen Stromdichto\verte RII. Aus den Ergcbriissen kann auf einen Zusammcriharig zwischen Sek~inddrolektroneIi~~isbeute und Kristttllperfekt,ion geschlossen werden. Fur diesen Zrisammoiihnng wird eine qualitative Erklaruiig versucht.
Both the electron optical image contrast, and the elcct,roii curreiit density of all cryst.al grniris decresse by plastic deformation of polycrystnlline samples in a secoridary electroil emission microscope with conventional high vacuum. A s a presiimption both the sample t.emperature and t h r vaciiiim must be so high that the secondary electron yield docs not change diiririg the variation of these parameters. After recrystallisat.ion the electron current densities of the crystallitcs with preserved orientat.iori return to thosc of the initial sta.ge. From these rcsults it. follows that a connection exists between secondary electron yield and crystal lattice perfection. A qualitative explanatiori of this connection is tried.