✦ LIBER ✦
Ellipsometrische Bestimmung der Dicke und Brechzahl dünner Schichten auf Silizium
✍ Scribed by Dip.-Min. M. Frenzel
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1969
- Tongue
- English
- Weight
- 587 KB
- Volume
- 4
- Category
- Article
- ISSN
- 0232-1300
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