Electromigration and diffusion of hydrogen have been investigated for vanadium and vanadium alloys containing Ti, Cr, Fe or MO. Both the effective charge number Z* and the diffusion coefficient D decrease by the addition of Ti and Cr, but are not much affected by Fe and MO. A model of hydrogen trapping by substitutjonal elements, previously introduced to account for a decrease in D by solute addition, cannot explain a decrease in Z* in a straightforward manner. The change in the electronic structure due to alloying seems to be responsible for the decrease in Z*. Rhsum&Nous avons Btudii l'klectromigration et la diffusion de l'hydrogene dans le vanadium et dans ses alliages contenant Ti, Cr, Fe ou MO. Le nombre de charge effective Z* et le coefficient de diffusion D decroissent tous les deux lorsqu'on ajoute Ti et Cr, mais ils sont peu affect&s par Fe et MO. Un modble du pitgeage de ~hydrog~ne par les elements de substitution, qui avait eti: introduit p~demment pour rendre compte de la decroissance de D avec une addition de solutk, ne peut pas expliquer correctement la decroissance de Z*. Cette decroissance de Z* semble avoir pour cause le changement de la structure tlectronique dti a l'effet d'alliage. Zusammeofassung-Elektrowanderung und Diffusion des Wasserstoffes wurden in Vanadium und in Vanadiumlegierungen mit Ti, Cr, Fe oder MO untersucht. Sowohl die effektive Ladungszahl Z* als such der ~ffusionskoe~~ent D nehmen bei Zugabe von Ti und Cr ab, werden aber von Fe und MO nicht stark beeinflult. Ein f&her Beschreiburg des Abfalls von D durch Zulegieren eongeflihrtes Model1 kann den Abfall von Z* nicht in einfacher Weise erklgren. Es scheint die Anderune in der elektronischen Struktur. hervorgerufen durch Zulegieren, fiir den Abfall von Z* verantwortlich"zu sein.