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Dielektrisches verhalten von Ta2O5-Schichten im elektrolyten

✍ Scribed by M. Hartl; E.H. Pauli


Publisher
Elsevier Science
Year
1966
Tongue
English
Weight
611 KB
Volume
11
Category
Article
ISSN
0013-4686

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✦ Synopsis


ZBAbweichungen vom normalen Verlauf der Kapaxltiit und des &quivalenten Serienwiderstands als Funktion der Frequenx bei anodisch hergestellten T~O&hichten, gemessen in verdilnnten wllsseri n Elektrolyten, sowie die Abhiingigkeit obiger Werte von der Art des Elektroilyten werden mit Hilf;" e eines LeitfEihigkeitsprofils im Oxyd erkl&t. Dabei wird angenommen, daB sich an der Grenxe xum Elektdyten eine verilnderte Oxydschicht bet%det, in welche das Eindringen des verwendeten Elektrolyten moglich isf. Der Einflua der bei diesen Messungen niitigen xweiten Elektrode im Elektrolyten (meist Pt) wird durch Verwendung einer gleichen Oxydschicht an Stelle van Platin nachgewiesen, bzw. ausgeschaltet. Gleichreitig geht daraus hervor, dal3 die unsymmetrische Gleichstromkennlinie dieser Oxydschichten keinen nachweisbamn Einfluh auf die gemessenen dielektrischen Eigenschaften


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