Defektstrukturuntersuchungen an GaAs-Einkristallen mit Hilfe der IR-Mikroskopie

✍ Scribed by Dr. M. Schulz; R. Sarodnik

• Publisher: John Wiley and Sons
• Year: 1973
• Tongue: English
• Weight: 603 KB
• Volume: 8
• Category: Article
• ISSN: 0232-1300
• DOI: 10.1002/crat.19730081210

✦ Synopsis

Abstract

Es wird über IR‐Untersuchungen an Czochralski‐gezogenen GaAs‐Einkristallen berichtet, die mit verschiedenen Elementen dotiert waren. Bei der Verwendung von Silizium und Chrom als Dotanten wurde bereits eine Eigendekoration der Versetzungen beobachtet. An einigen Beispielen wird die geometrische Anordnung und die Verteilung der Versetzungen diskutiert.