Deep Trap Levels in Zn-Annealed ZnSe Sin
โ
Karai, M. ;Kido, K. ;Naito, H. ;Kurosawa, K. ;Okuda, M. ;Fujino, T. ;Kitagawa, M
๐
Article
๐
1990
๐
John Wiley and Sons
๐
English
โ 604 KB