Das Rastertunnelmikroskop – von der Störstellenanalyse zum Nanowerkzeug

✍ Scribed by Jochen Hennig

• Publisher: John Wiley and Sons
• Year: 2004
• Weight: 250 KB
• Volume: 35
• Category: Article
• ISSN: 0031-9252
• DOI: 10.1002/piuz.200490083

✦ Synopsis

Abstract

Mit dem Rastertunnelmikroskop steht der Forschung ein Instrument zur atomgenauen Oberflächenuntersuchung zur Verfügung, das seit seiner Entwicklung 1982 bereits eine wechselhafte Geschichte hinter sich hat.