schriften erwartet, klar und umfassend dargestellt. Diese Kapitel allein rechtfertigen schon die Anschaffung des Buches. Die kritische Sichtung der zahireichen Methoden der Signalverarbeitung wurde von einem Fachmann mit Uberblick in erfreulich gut lesbarem Stil geschrieben. Zur Illustration der Schreibweise und der Behandlung des Themas sei ein (leicht gekiirztes) Zitat aus dem Abschnitt ,,Comparison of Deconvolution Methods" angefiihrt: "We add that there are substantial philosophical differences among many researchers. In one view true deconvolution without an assumed model is considered to be unreliable. The only acceptable procedure is to assume a model and evaluate the best-fit parameters. Others feel that the best procedure is deconvolution to i(t) and modeling directly on i(t). If used with common sense and without pushing data or data reduction beyond its limits, both viewpoints will generally yield the same conclusions."
Die letzten drei Kapitel ,,Experimental Methods" (18 S.), ,,Special Error Sources" (33 S.) und ,,Testing and Evaluation of Methods and Instruments" (30 S.) befassen sich noch einmal mit instrumentellen Problemen, und zwar wesentlich ausfuhrlicher als am Anfang des Buches. Man kann diese Themen in anderen Buchern und fibersichtsartikeln (auf die hingewiesen wird) zum Teil ausfiihrlicher behandelt finden. Auf jeden Fall aber vermitteln diese drei Kapitel eine sehr gute (und in vielen FPllen wohl auch ausreichende) Ubersicht. Manche Information, die hier enthalten ist, miil3te man sich miihsam zusammensuchen, weil sie nicht in der Fachliteratur zu finden ware, mit der diejenigen vertraut sind, an die sich das Buch hauptsachlich wendet. Als Beispiele seien genannt ,,Digital Simulations", ,,Generating Synthetic Noise" und ,,A Test of Random Number Generators".
Wie bereits erwahnt, wird nichts Wesentliches uber die Technik der Absorptions-Messung angeregter Zustande mitgeteilt. Oft ist dies aber die einzige Methode, Lebensdauern zu bestimmen, und hlufig genug eine wesentliche Erganzung der Emissions-Messungen. Vielleicht k6nnte man in einer zweiten Auflage den Anhang ,,Computer Programs" (16 s.) opfern und dafiir den Abschnitt ,,Flash Photolysis" (mit neuer Uberschrift!) erweitern.
Auf jeden Fall ist allen, die sich mit der Registrierung und, insbesondere, der Auswertung von Abklingkurven zu beschaftigen haben, die Anschaffung dieses Buches unbedingt zu empfehlen.