Computergesteuertes Zeichnen stereographischer Projektionen von Kossel-Linien und ihre Anwendungen zum Studium tetragonaler Verzerrungen
✍ Scribed by Doz. Dr. H.-J. Ullrich; K. Thiele; Dipl.-Phys. S. Däbritz; Dipl.-Phys. H. Schreiber; Dipl.-Phys. K. Götze; F. Feldhofer
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1972
- Tongue
- English
- Weight
- 850 KB
- Volume
- 7
- Category
- Article
- ISSN
- 0232-1300
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✦ Synopsis
Die Mitautoren widmen diesen Beitrag dem Gedachtnis von Herrn Dr. rer. nat. e t Ing. habil. KARL THIELE, der a n der Abfassung der Arbeit maageblich beteiligt war und plotzlich verstarb. Zur Ermittlung der Gitterkonstanten und der Symmetrieelemente sowie zur Orientierungsbestimmung von mikroskopisch kleinen Bercichen kompakter Proben wird die Kossel-Technik eingesetzt, wobei stereographische Projektionen von Kossel-Linien als Auswerte-Hilfsmittel herangezogen werden. Es werden Varianten eines Computerprogramms beschrieben, mit dem sich stereographische Projektionen von Kossel-Linien bzw. Ausschnittsstereogramme bci oinem Minimum von Eingabewerten zeichnen lassen. Die Nutzlichkeit der Stereogramme wird an Hand von Beispielen belegt, wobei besonders auf das Studium tetragonaler Verzerrungen in kubischen Substanzen eingegangen wird. Stereographic projection of Kossel-lines are often used to interprete Kosselpatterns for determination of lattice constants and orientation relations. This paper describes computer programs for plotting stereographic projections with a minimum of input data. The usefullness of such projections are shown on examples of tetragonal stressed FeAl-lattice ond a-&transformation of Co. 1. Einleitung Die von W. Kossel 1935 entdeckten Rontgen-, ,Interferenzen aus Gitterquellen" (Kossel-Linien) werden in letzter Zeit immer haufiger zur Bestimmung von Gitterkonstanten, zur Ermittlung von Symmetrieelementen und der Kristallorientierung sowie zur Untersuchung von Gitterverzerrungen herangezogen. Folgende Griinde sind dafur maagebend: 1. Mit keinem anderen. Verfahren lassen sich zur Zeit Gitterkonstanten in mikroskopisch kleinen Gebieten (Durchmesser einige pm) kompakter Proben ermitteln. Damit ist man z. B. in der Lage, die Gitterkonstanten in einzelnen Kornern eines Festkbrpers miteinander zu vergleichen oder Gitterkonstantenanderungen bzw. Orientierungsanderungen in der NLhe von Korngrenzen auszumessen. 2. Aufwendige Probenpraparationen, wie sie fur andere Rontgenverfahren notwendig sind, entfallen. Es konnen beliebig geformte Proben, auch natiirlich gewachsene oder kiinstlich geziichtete Kristalle unterschiedlicher Abmessungen untersucht werden. 76 Kristall/Technik. Bd. 7. H. 10