Comprehensive Characterization of CdTe and (Cd, Zn)Te Single Crystals by a Chemical Etchant
Using a known chemical etchant low-and high angle boundaries and lamellar twins can be seen on CdTe and (Cd, Zn)Te crystal ingots as a whole as well as on slices with naked eyes. Also the polarity of { 111) samples can be determined in this way. Etch pits are produced on cut and polished surfaces independent of their crystallographic orientation. A new modified etchant was used to study the low angle subgrain structure on (1 11)Te surfaces.
Unter Verwendung eines Atzmittels bekannter Zusammensetzung konnen auf CdTeund (Cd, Zn)Te-Kristallen Kleinwinkelkorngrenzen, Grogwinkel korngrenzen und Zwillingslamellen schon bei Betrachtung mit blol3em Auge sichtbar gemacht werden. Die A/B-Flachenzuordnung an { 1 I> } orientierten Kristallscheiben kann auf gleicher Weise durchgefuhrt werden. Mit dem Atzmittel ist es daruber hinaus moglich, Atzgruben anf gesagten und polierten Kristalloberflachen unterschiedlicher Orientierung z u erzeugen. Mit einem neuen, modifizierten Atzmittel kann Cie in diesen Kristallen haufig auftretende Kleinwinkelkorngrenzensubstruktur durch Atzen von ( I 11)Te Oberflachen nntersucht werden. '