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Caractérisation et résultats de fiabilité de transistors

✍ Scribed by Abdenabi Belhadj; Pierre Audren; Christian Vuchener; Joseph Paugam; Jean-Michel Dumas

Book ID
112967018
Publisher
Springer-Verlag
Year
1990
Tongue
English
Weight
474 KB
Volume
45
Category
Article
ISSN
0003-4347

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## R6sumC A partu du m6camsme de rCductlon en phase sohde des bloxydes de manganhse B haute rCactn&, on montre que cette r6actlvltC peut s'expnmer par la vltesse de cr6atlon d'entrople lnteme au sem du bloxyde et par la value de 1'6nerse de Fernu des electrons mtervenant dans la reduction