Caractérisation de structures MIS (AlSi3N4GaAs) par différentes méthodes capacitives

✍ Scribed by Bogdanski, P. ;Carin, R. ;Gardais, O. ;Vizot, J.

• Publisher: John Wiley and Sons
• Year: 1983
• Tongue: English
• Weight: 603 KB
• Volume: 80
• Category: Article
• ISSN: 0031-8965
• DOI: 10.1002/pssa.2210800120