Betriebsmeßtechnik unter Einsatz von in-line und on-line Analysatoren. F. Oehme und M. Jola. Dr. Alfred Hüthig Verlag GmbH, Heidelberg. 1982. XI, 167 S., 119 Abb., kart., 38,–DM. ISBN 3-7785-0782-6
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1985
- Tongue
- German
- Weight
- 92 KB
- Volume
- 36
- Category
- Article
- ISSN
- 0947-5117
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✦ Synopsis
Das zweite Kapitel "Technique and Applications of X-ray Photoelectron Spectroscopy" von J . C. Riviere, Atom Energy Research Establishment, Barwell, ist sehr gehaltvoll und beschreibt die Techniken XPS und AES (Auger-Elcktronen-Spcktroskopie), die oft gemeinsam angewendet werden. weil der gleiche Energieanalysator benutzt werden kann. AES hat den Vorteil der hoheren lateralen Auflosung und grijl3eren Schnelligkeit. Dafur gibt XPS mehr Informationen iiber den chemischen Bindungszustand. Dargelegt werden neben den physikalischen Grundlagen die Instrumentierung, spektrale Grundziige, quantitative Aussagen, Analysentiefe, praktische Anwendung sowie zukunftige Entwicklungen.
Die Auger-Elektronen-Spektroskopie wird dann im dritten Kapitel noch einmal gesondert von M . P. Seah, National Physical Laboratory, Teddington, dargestellt. Das Kapitel beginnt wieder mit den Grundvorlagen, und es folgen Instrumentierung, quantitative Aussagen und Tiefenprofile.