Aging tests of full-scale CMS muon cathode strip chambers

✍ Scribed by D. Acosta; G. Apollinari; K. Arisaka; N. Bondar; R. Breedon; A. Bujak; B. Bylsma; N. Chester; R. Clare; D. Cline; R. Cousins; T. Cox; S. Dolinsky; S. Durkin; D. Eartly; Yu. Ivanov; T. Ferguson; G. Gavrilov; J. Gilmore; J. Gu; L. Gutay; F. Hann; R. Hartmut; J. Hauser; K. He; M. Ignatenko; S. Ilie; C. Jiang; W. Ko; A. Korytov; A. Krivshich; K. Kuznetsova; J. Layter; R. Lee; P. Levtchenko; T.Y. Ling; D. Loveless; S. Lusin; K. Maeshima; A. Madorsky; C. Matthey; M. Matveev; M. von der Mey; G. Mitselmakher; S. Otwinowski; P. Padley; I. Pal; Yu. Pischalnikov; O. Prokofiev; V. Razmyslovich; D. Reeder; J. Roberts; L. Schipunov; I. Smirnov; V. Souvorov; J. Stasko; H. Sun; V. Sytnik; N. Terentyev; M. Tripathi; S. Vavilov; S. Volkov; A. Vorobyov; I. Vorobyov; L. Wang; V. Yarba; L. Zhou; Z. Zhu

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 2003
• Tongue: English
• Weight: 481 KB
• Volume: 515
• Category: Article
• ISSN: 0168-9002
• DOI: 10.1016/j.nima.2003.09.002