A Muon Detection System for the PEP4 Facility

✍ Scribed by Aihara, H.; Alston-Garnjost, M.; Badtke, D. H.; Bakken, J. A.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, A. V.; Barnett, B. A.; Blumenfeld, B. J.; Bross, A.; Buchanan, C. D.; Carithers, W. C.; Chamberlain, O.; Chiba, J.; Chien, C-Y; Clark, A. R.; Dahl, O. I.; Day, C. T.; Delpiee, P.; Derby, K. A.; Eberhard, P. H.; Fancher, D. L.; Fujii, H.; Fujii, T.; Gabioud, B.; Gary, J. W.; Gorn, W.; Hadley, N. J.; Hauptman, J. M.; Heck, B.; Hilke, H.; Huth, J. E.; Hylen, J.; Iwasaki, H.; Kamae, T.; Kenney, R. W.; Kerth, L. T.; Koda, R.; Kofler, R. R.; Kwong, K. K.; Layter, J. G.; Lindsey, C. S.; Loken, S. C.; Lu, X-Q.; Lynch, G. R.; Madansky, L.; Madaras, R. J.; Majka, R.; Mallet, J.; Martin, P. S.; Maruyama, K.; Marx, J. N.; Matthews, J. A. J.; Melnikoff, S. O.; Moses, W.; Nemethy, P.; Nygren, D. R.; Oddone, P. J.; Park, D.; Pevsner, A.; Pripstein, M.; Robrish, P. R.; Ronan, M. T.; Ross, R. R.; Rouse, F. R.; Shapiro, G.; Shapiro, M. D.; Shen, B. C.; Slater, W. E.; Spangler, W. J.; Stevenson, M. L.; Stork, D. H.; Ticho, H. K.; Toge, N.; Van Dalen, G. J.; van Tyen, R.; Videau, H.; Wayne, M.; Wenzel, W. A.; vanDaalen Wetters, R. F.; Yamauchi, M.; Zeller, M. E.; Zhang, W-M.

• Book ID: 114662536
• Publisher: IEEE
• Year: 1983
• Tongue: English
• Weight: 660 KB
• Volume: 30
• Category: Article
• ISSN: 0018-9499
• DOI: 10.1109/tns.1983.4332221